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A Characterization of Shannon Entropy and Bhattacharyya Measure of Contrast in Polarimetric and Interferometric SAR Image

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Morio, J.; Refregier, P.; Goudail, F.; Dubois-Fernandez, P. C.; Dupuis, X. Pág. 1097 - 1108

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 97 Num: 6 Par: 0 Año: 2009

Influence of the Noise Model on Level Set Active Contour Segmentation

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Martin, P. Refregier, P. Goudail, F. Guerault, F. Pág. 799 - 803

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 26 Num: 6 Par: 0 Año: 2004

Polarimetric Image Analysis Contrast Definition for Optical Coherent Polarimetric Images

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Goudail, F. Refregier, P. Pág. 947 - 950

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 26 Num: 7 Par: 0 Año: 2004

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