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Development of a synchrotron biaxial tensile device for in situ characterization of thin films mechanical response

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G. Geandier, D. Thiaudière, R. N. Randriamazaoro, R. Chiron, S. Djaziri, B. Lamongie, Y. Diot, E. Le Bourhis, P. O. Renault, P. Goudeau, A. Bouaffad, O. Castelnau, D. Faurie, and F. Hild

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 10 Par: 0 Año: 2010

On the Young`s modulus of 304 L stainless steel thin films

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Boubeker B. Talea M. Goudeau P. Coupeau C. Grilhe J. Pág. 33 - 37

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 1 Par: 0 Año: 2000

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