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Modeling and Characterization of SiGe HBT Low-Frequency Noise Figures-of-Merit for RFIC Applications

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Tang, J. Niu, G. Jin, Z. Cressler, J. D. Zhang, S. Joseph, A. J. Harame, D. L. Pág. 2467 - 2473

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 11 Par: 0 Año: 2002

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