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High-aspect ratio metal tips attached to atomic force microscopy cantilevers with controlled angle, length, and radius for electrostatic force microscopy

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Lynda Cockins, Yoichi Miyahara, Romain Stomp, and Peter Grutter

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 78 Num: 11 Par: 0 Año: 2007

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