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Small-Signal and Temperature Noise Model for MOSFETs
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Pascht, A. Grozing, M. Wiegner, D. Berroth, M.
Pág. 1927 - 1934
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 50 Num: 8 Par: 0 Año: 2002
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