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Ryall, K.; Esenther, A.; Forlines, C.; Chia Shen; Shipman, S.; Morris, M.R.; Everitt, K.; Vernier, F.D.     Pág. 56 - 64
Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS    Formato: Impreso

 
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Chia Shen; Ryall, K.; Forlines, C.; Esenther, A.; Vernier, F.D.; Everitt, K.; Wu, M.; Wigdor, D.; Morris, M.R.; Hancock, M.; Tse, E.     Pág. 36 - 46
Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS    Formato: Impreso

 
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Beardsley, P.; van Baar, J.; Raskar, R.; Forlines, C     Pág. 39 - 43
Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS    Formato: Impreso

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