15   Artículos

 
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Elena Sesana, Alexandre S. Gagnon, Chiara Bertolin and John Hughes    
Changes in rainfall patterns, humidity, and temperature, as well as greater exposure to severe weather events, has led to the need for adapting cultural heritage to climate change. However, there is limited research accomplished to date on the process of... ver más
Revista: Geosciences    Formato: Electrónico

 
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M. Joseph Hughes, S. Douglas Kaylor and Daniel J. Hayes    
In the species-rich and structurally complex forests of the Eastern United States, disturbance events are often partial and therefore difficult to detect using remote sensing methods. Here we present a set of new algorithms, collectively called Vegetatio... ver más
Revista: Forests    Formato: Electrónico

 
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Ryan A. Harnish, Gary E. Johnson, Geoffrey A. McMichael, Michael S. Hughes & Blaine D. Ebberts     Pág. 507 - 519

 
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Ben S. Bunting, Jr., Jacob Hughes and Tim Hetland    
Revista: Future Internet    Formato: Electrónico

 
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Barry B. Hughes, Mohammod T. Irfan, Jonathan D. Moyer, Dale S. Rothman and José R. Solórzano    
Revista: Sustainability    Formato: Electrónico

 
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Alan Hale, Andrew Hughes, Jim Sirbaugh and David S. Kidman    

 
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Peter J. Blancher, R. Dean Phoenix, Debra S. Badzinski, Michael D. Cadman, Tara L. Crewe, Constance M. Downes, Don Fillman, Charles M. Francis, Jack Hughes, David J.T. Hussell, Denis Lepage, Jon D. McCracken, Donald K. McNicol, Bruce A. Pond, R. Ken     Pág. 184 - 201
Revista: FORESTRY CHRONICLE    Formato: Impreso

 
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P. K. Singh, M. Mergoum, S. Ali, T. B. Adhikari, and G. R. Hughes     Pág. 702 - 708
Revista: PHYTOPATHOLOGY    Formato: Impreso

 
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Richard S. Levine,Michael T. Hughes,Casey Ryan Mather     Pág. 155 - 167
questions.
Revista: ARCHNET-IJAR    Formato: Electrónico

 
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Hughes, M.; Caruthers, S.; Trung Tran; Marsh, J.; Wallace, K.; Cyrus, T.; Partlow, K.; Scott, M.; Lijowski, M.; Neubauer, A.; Winter, P.; Hu, G.; Zhang Hyuing; McCarthy, J.; Maurizi, B.; Allen, J.; Caradine, C.; Neumann, R.; Arbeit, J.; Lanza, G.; Wi     Pág. 397 - 415
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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