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Differential phase-shifting interferometry for in situ surface characterization during solution growth of crystals

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Booth, N. A. Stanojev, B. Chernov, A. A. Vekilov, P. G. Pág. 3540 - 3545

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 10 Par: 0 Año: 2002

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