2   Artículos

 
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C Pandian, S Sosamma, M Kasinathan, C Babu Rao, N Murali, T Jayakumar, Baldev Raj, Manoj Kumar Saxena, S D V S J Raju, Rakesh Sharma and Sanjay Kher     Pág. 568 - 569
Revista: INSIGHT    Formato: Impreso

 
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Kher, S; Bubel, G     Pág. 126 - 130
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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