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Characterization of materials nanomechanical properties by force modulation and phase imaging atomic force microscopy with soft cantilevers

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Snitka, V. Ulcinas, A. Mizariene, V. Pág. 147 - 152

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002

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