AVANZADA

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Advanced DSL Management

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Kerpez, K. J. Waring, D. L. Galli, S. Dixon, J. Madon, P. Pág. 116 - 123

Revista: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 41 Num: 9 Par: 0 Año: 2003

Loop Makeup Identification Via Single Ended Testing: Beyond Mere Loop Qualification

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Galli, S. Waring, D. L. Pág. 923 - 935

Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 20 Num: 5 Par: 0 Año: 2002

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