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Paul R. Cabe1, Andrew Baumgarten, Kyle Onan, James J. Luby, and David S. Bedford     Pág. 15 - 17
Revista: HORTSCIENCE    Formato: Impreso

 
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Cooke, R. Bedford, T.     Pág. 294 - 310
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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