2 Artículos

Measurements - Comparison of Adapter Characterization Methods

Solicitud

usuarios registrados

Randa, J; Wiatr, W; Billinger, R L Pág. 2613 - 2620

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 12 Par: 0 Año: 1999

Automatic RF Techniques Group - Characterization and Applications of On-Wafer Diode Noise Sources

Solicitud

usuarios registrados

Dunleavy, L P; Randa, J; Walker, D K; Billinger, R; Rice, J Pág. 2620 - 2627

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 12 (2) Par: 0 Año: 1998

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »