AVANZADA

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On RF Material Characterization in the Stripline Cavity

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Weil, C M; Jones, C A; Kantor, Y; Grosvenor Jr, J H Pág. 266 - 275

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2 Par: 0 Año: 2000

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