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Analysis of the Survivability of GaN Low-Noise Amplifiers

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Rudolph, M.; Behtash, R.; Doerner, R.; Hirche, K.; Wurfl, J.; Heinrich, W.; Trankle, G. Pág. 37 - 43

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 1 Par: 0 Año: 2007

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