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Design and noise model for CCD-based, time-resolved PHA measurements

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Schooff, R. Diem, S. Fonck, R. Reinke, M. Tritz, K. Pág. 2007 - 2010

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 3 Par: 2 Año: 2003

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