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Wave-dispersive x-ray spectrometer for simultaneous acquisition of several characteristic lines based on strongly and accurately shaped Ge crystal

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Kouichi Hayashi, Kazuo Nakajima, Kozo Fujiwara, and Susumu Nishikata

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 3 Par: 0 Año: 2008

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