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Multichannel, time-resolved picosecond laser ultrasound imaging and spectroscopy with custom complementary metal-oxide-semiconductor detector

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Richard J. Smith, Roger A. Light, Steve D. Sharples, Nicholas S. Johnston, Mark C. Pitter, and Mike G. Somekh Pág. 024901

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 2 Par: 1 Año: 2010

Rapid photoreflectance spectroscopy for strained silicon metrology

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H. Chouaib, M. E. Murtagh, V. Guènebaut, S. Ward, P. V. Kelly, M. Kennard, Y. M. Le Vaillant, M. G. Somekh, M. C. Pitter, and S. D. Sharples

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 10 Par: 0 Año: 2008

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