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Angle-resolving time-of-flight electron spectrometer for near-threshold precision measurements of differential cross sections of electron-impact excitation of atoms and molecules

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M. Lange, J. Matsumoto, A. Setiawan, R. Panajotovic, J. Harrison, J. C. A. Lower, D. S. Newman, S. Mondal, and S. J. Buckman

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 4 Par: 0 Año: 2008

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