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A Seeman¿Bohlin geometry for high-resolution nanosecond x-ray diffraction measurements from shocked polycrystalline and amorphous materials

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D. Milathianaki, J. Hawreliak, J. M. McNaney, B. S. El-Dasher, M. D. Saculla, D. C. Swift, H. E. Lorenzana, and T. Ditmire

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 9 Par: 0 Año: 2009

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