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Temporally resolved Schwarzschild microscope for the characterization of extreme ultraviolet emission in laser-produced plasmas

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Y. Tao, M. Nakai, H. Nishimura, S. Fujioka, T. Okuno, T. Fujiwara, N. Ueda, N. Miyanaga, and Y. Izawa Pág. 5173 - 5176

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 12 Par: 0 Año: 2004

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