24   Artículos

 
en línea
Joon H. Ahn, Hyun J. Hwang, Sehoon Chang, Sung Nam Jung, Steffen Kalow and Ralf Keimer    
This paper describes an evaluation of the structural properties of the next-generation active twist blade using X-ray computed tomography (CT) combined with digital image processing. This non-destructive testing technique avoids the costly demolition of ... ver más
Revista: Aerospace    Formato: Electrónico

 
en línea
Nguy?n Th? L? Huong,Phan Thanh Hoàn DOI: 10.26459/jed.v126i5A.4126     Pág. 101?114
T? k?t qu? th?ng kê các ngu?n l?c du l?ch và dánh giá c?a du khách trên d?a bàn huy?n Phú L?c, thông qua k? thu?t phân tích nhân t?, nghiên c?u dã xác d?nh du?c 21 thành ph?n thu?c 5 y?u t? c?u thành di?m d?n du l?ch Phú L?c. K?t qu? nghiên c?u dã ch? ra... ver más

 
usuarios registrados
J.-H. Kwon, K. Akram, K.-C. Nam, E. J. Lee, and D. U. Ahn     Pág. 2578 - 2583
Revista: POULTRY SCIENCE    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
Y. U. Nam, J. Chung, and Y. M. Jeon    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
J. H. Lee, H. K. Na, S. G. Lee, J. G. Bak, D. C. Seo, S. H. Seo, S. T. Oh, W. H. Ko, J. Chung, Y. U. Nam, K. D. Lee, E. M. Ka, Y. K. Oh, M. Kwon, and S. H. Jeong    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
J. Chung, K. D. Lee, D. C. Seo, Y. U. Nam, W. H. Ko, J. H. Lee, and M. C. Choi    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
B R Min, K C Nam, E J Lee, G Y Ko, D W Trampel, D U Ahn     Pág. 1791 - 1796
Revista: POULTRY SCIENCE    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
Lee, B. Kwon, S.-H. Lee, J. Nam, H.-K. Choo, J.-B. Jeon, D.-H.     Pág. 399 - 404
Revista: IET GENERATION, TRANSMISSION & DISTRIBUTION    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
Reintsema, C. D. Beyer, J. Nam, S. W. Deiker, S. Hilton, G. C. Irwin, K. Martinis, J. Ullom, J. Vale, L. R. Maclntosh, M.     Pág. 4500 - 4508
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
Nam, H. Cha, G. S. Strong, T. D. Ha, J. Sim, J. H. Hower, R. W. Martin, S. M. Brown, R. B.     Pág. 870 - 880
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

« Anterior     Página: 1 de 2     Siguiente »