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Hirotada Gotou, Takehiko Yagi, Daniel J. Frost, and David C. Rubie    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Evans, J B; Minden, G J; Shanmugan, K S; Prescott, G; Frost, V S; Ewy, B;     Pág. 689 - 703
Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS    Formato: Impreso

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