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B Rockstroh, F Walte, W Kappes, S Bessert, M Kröning, W Schäfer, R Dath, B Üblacker, J Montnacher, F Minich, A Kushnarev, V Kamardin and Y Smorodinskiy     Pág. 333
Revista: INSIGHT    Formato: Impreso

 
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Benjamin W. Schafer     Pág. 495 - 496
Revista: JOURNAL OF STRUCTURAL ENGINEERING (NEW YORK, NY)    Formato: Impreso

 
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Cheng Yu and Benjamin W. Schafer     Pág. 515 - 528
Revista: JOURNAL OF STRUCTURAL ENGINEERING (NEW YORK, NY)    Formato: Impreso

 
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Fekri, F; Mersereau, R M; Schafer, R W     Pág. 1272 - 1281
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING    Formato: Impreso

 
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Schafer, B W; Peköz, T     Pág. 118 - 127
Revista: JOURNAL OF STRUCTURAL ENGINEERING (NEW YORK, NY)    Formato: Impreso

 
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Marsh, Cedric; Schafer, Benjamin W     Pág. 1498 - 1498
Revista: JOURNAL OF STRUCTURAL ENGINEERING (NEW YORK, NY)    Formato: Impreso

 
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Schafer, B W; Peköz, T     Pág. 1175 - 1181
Revista: JOURNAL OF STRUCTURAL ENGINEERING (NEW YORK, NY)    Formato: Impreso

 
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Queiroz, R L de; Florêncio, D A F; Schafer, R W     Pág. 246 - 252
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING    Formato: Impreso

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