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An automated glitch-detection/restoration method of atomic force microscope images

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Hyon, C. Oh, S. Kim, H. Sull, S. Hwang, S. Ahn, D. Park, Y. Kim, E. Pág. 3245 - 3250

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 9 Par: 0 Año: 2002

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