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Demmel, J.; Dongarra, J.; Eijkhout, V.; Fuentes, E.; Petitet, A.; Vuduc, R.; Whaley, R.C.; Yelick, K.     Pág. 293 - 312
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Kozyrakis, C; Judd, D; Gebis, J; Williams, S; Patterson, D; Yelick, K     Pág. 1694 - 1709
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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