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Systematic Error of the Nose-to-Nose Sampling-Oscilloscope Calibration

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Williams, D.F.; Clement, T.S.; Remley, K.A.; Hale, P.D.; Verbeyst, F. Pág. 1951 - 1957

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 9 Par: 0 Año: 2007

Enhanced On-Wafer Time-Domain Waveform Measurement Through Removal of Interconnect Dispersion and Measurement Instrument Jitter

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Scott, J. B. Verspecht, J. Behnia, B. Bossche, M. V. Cognata, A. Verbeyst, F. Thorn, M. L. Scherrer, D. R. Pág. 3022 - 3028

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 12 Par: 0 Año: 2002

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