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Measuring microwave properties of laminated dielectric substrates
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V. N. Egorov, V. L. Masalov, Yu. A. Nefyodov, A. F. Shevchun, and M. R. Trunin
Pág. 4423 - 4433
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 75 Num: 11 Par: 0 Año: 2004
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