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Vacuum ellipsometry as a method for probing glass transition in thin polymer films

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Mikhail Yu. Efremov, Shauheen S. Soofi, Anna V. Kiyanova, Claudio J. Munoz, Peter Burgardt, Franco Cerrina, and Paul F. Nealey

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 4 Par: 0 Año: 2008

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