3   Artículos

 
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Seelmann-Eggebert, M.; Merkle, T.; van Raay, F.; Quay, R.; Schlechtweg, M.     Pág. 195 - 206

 
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Ebert, T. Merkle, W. Vollmer, H.     Pág. 1542 - 1569
Revista: SIAM JOURNAL ON COMPUTING    Formato: Impreso

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