4   Artículos

 
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George E. Boyhan, Gerard Krewer, Darbie M. Granberry, C. Randell Hill, and William A. Mills     Pág. 1484 - 1485
Revista: HORTSCIENCE    Formato: Impreso

 
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Xu, J; Romanovsky, A; Randell, B     Pág. 1019 - 1032

 
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Zorzo, A F; Romanovsky, A; Xu, J; Randell, B; Stroud, R J; Welch, I S     Pág. 677 - 698
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

 
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Xu, J; Randell, B     Pág. 60 - 67
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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