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High performance feedback for fast scanning atomic force microscopes

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Schitter, G.; Menold, P.; Knapp, H. F.; Allgo¨wer, F.; Stemmer, A. Pág. 3320 - 3327

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 72 Num: 8 Par: 0 Año: 2001

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