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Energy and pitch angle-resolved measurements of escaping helically trapped energetic ions at the small major radius side of the compact helical system

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Isobe, M. Darrow, D. S. Kotani, J. Shimizu, A. Suzuki, C. Yoshimura, Y. Minami, T. Takahashi, C. Nagaoka, K. Nishimura, S. Pág. 1739 - 1742

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 3 Par: 2 Año: 2003

New Paradigm of Silicon Technology (Invited Paper)

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Ohmi, T; Sugawa, S; Kotani, K; Hirayama, M; Morimoto, A Pág. 394 - 412

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 89 Num: 3 Par: 0 Año: 2001

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