AVANZADA

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High-reflectivity Cr/Sc multilayer condenser for compact soft x-ray microscopy

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H. Stollberg, S. Yulin, P. A. C. Takman, and H. M. Hertz

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 12 Par: 0 Año: 2006

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