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E.J. Kok, S.J. Lehesranta, J.P. van Dijk, J.R. Helsdingen, W.T.P. Dijksma, A.M.A. Van Hoef, K.M. Koistinen, S.O. Karenlampi, H.A. Kuiper, and J. Keijer     Pág. 503 - 518

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