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Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope
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H. P. Huber, M. Moertelmaier, T. M. Wallis, C. J. Chiang, M. Hochleitner, A. Imtiaz, Y. J. Oh, K. Schilcher, M. Dieudonne, J. Smoliner, P. Hinterdorfer, S. J. Rosner, H. Tanbakuchi, P. Kabos, and F. Kienberger
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 81 Num: 11 Par: 0 Año: 2010
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