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Optimization of a Langmuir-Taylor detector for lithium

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Delhuille, R. Miffre, A. Lavallette, E. Buchner, M. Rizzo, C. Trenec, G. Vigue, J. Loesch, H. J. Gauyacq, J. P. Pág. 2249 - 2258

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 6 Par: 0 Año: 2002

Reliability Analysis of Systems Based on Software and Human Resources

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Pasquini, A. Pistolesi, G. Rizzo, A. Pág. 337 - 345

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 4 Par: 0 Año: 2001

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