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Simultaneous atomic force microscopy measurement of topography and contact resistance of metal films and carbon nanotubes
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Stadermann, M. Grube, H. Boland, J. J. Papadakis, S. J. Falvo, M. R. Superfine, R. Washburn, S.
Pág. 3653 - 3655
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 74 Num: 8 Par: 0 Año: 2003
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