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A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in situ x-ray diffraction measurements

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Ritley, K. A.; Krause, B.; Schreiber, F.; Dosch, H. Pág. 1453 - 1457

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 72 Num: 2 Par: 0 Año: 2001

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