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Conical x-ray crystal spectrometer for time integrated and time resolved measurements

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Andiel, U. Eidmann, K. Pisani, F. Witte, K. Uschmann, I. Wehrhan, O. Forster, E. Pág. 2369 - 2374

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 4 Par: 0 Año: 2003

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