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Lateral force calibration in atomic force microscopy: A new lateral force calibration method and general guidelines for optimization

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Rachel J. Cannara, Michael Eglin, and Robert W. Carpick

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 5 Par: 0 Año: 2006

Cantilever tilt compensation for variable-load atomic force microscopy

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Rachel J. Cannara, Matthew J. Brukman, and Robert W. Carpick Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 5 Par: 0 Año: 2005

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