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Three-dimensional grain mapping by x-ray diffraction contrast tomography and the use of Friedel pairs in diffraction data analysis

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W. Ludwig, P. Reischig, A. King, M. Herbig, E. M. Lauridsen, G. Johnson, T. J. Marrow, and J. Y. Buffière

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 3 Par: 0 Año: 2009

Non-destructive characterization of recrystallization kinetics using three-dimensional X-ray diffraction microscopy

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E.M. Lauridsen, S. Schmidt, S.F. Nielsen, L. Margulies, H.F. Poulsen and D. Juul Jensen Pág. 51 - 56

Revista: SCRIPTA MATERIALIA Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

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