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Measurement of ultralow loss in antireflection mirror

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Xinwei Chen, Fusheng Qiu, Hongxia Zhang, Dagong Jia, Tiegen Liu, and Yimo Zhang

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 9 Par: 0 Año: 2010

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