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TOOLS & TECHNIQUES - Development programs for 1-shot systems: Decoupled tests & redesign, with potential design-degradation

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Moon, M; Vardeman, S; McBeth, D Pág. 189 - 198

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2 Par: 0 Año: 1999

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