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Optimal Allocation of Test Resources for Software Reliability Growth Modeling in Software Development

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Lyu, M. R. Rangarajan, S. van Moorsel, A. P. A. Pág. 183 - 192

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 2 Par: 0 Año: 2002

Transient solution of Markov models by combining adaptive & standard uniformization

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Moorsel, A van; Sanders, W Pág. 430 - 439

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 3 Par: 0 Año: 1997

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