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A General Model for Finite-Sample Effects in Training and Testing of Competing Classifiers
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Beiden, S. V. Maloof, M. A. Wagner, R. F.
Pág. 1561 - 1569
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 25 Num: 12 Par: 0 Año: 2003
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