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Sheng-Tun Li, Li-Yen Shue, Shu-Fen Lee     Pág. 739 - 754
Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS    Formato: Impreso

 
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Sheng-Tun Li, Li-Yen Shue and Shu-Fen Lee     Pág. 621 - 632
Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS    Formato: Impreso

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