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Reliability Growth Management Metrics and Statistical Methods for Discrete-Use Systems.

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J. Brian Hall, Paul M. Ellner, Ali Mosleh Pág. 379 - 388

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 4 Par: 0 Año: 2010

Reliability Growth Management Metrics and Statistical Methods for Discrete-Use Systems. Rejoinder.

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J. Brian Hall, Paul M. Ellner, Ali Mosleh Pág. 401 - 408

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 4 Par: 0 Año: 2010

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