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3-D Technology Assessment: Path-Finding the Technology/Design Sweet-Spot
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Marchal, P.; Bougard, B.; Katti, G.; Stucchi, M.; Dehaene, W.; Papanikolaou, A.; Verkest, D.; Swinnen, B.; Beyne, E.
Pág. 96 - 107
Revista:
PROCEEDINGS OF THE IEEE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 97 Num: 1 Par: 0 Año: 2009
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