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Light scattering analysis, an NDT optical method for studying the electroerosion phenomenon

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Hogert, E. N. Landau, M. R. Aparicio, R. Gale, M. F. R. Gaggioli, N. G. Pág. 263 - 265

Revista: INSIGHT Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 4 Par: 0 Año: 2003

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